内容紹介
ここでは高分子物性の中心となる分子鎖ダイナミクスの評価とデータの見方、力学物性、ならびに、昨今、進展の著しい高分子ナノテクノロジーを支える表面・薄膜物性として、接触角計を用いた濡れ性、原子間力顕微鏡やナノインデンターを用いた局所力学物性評価、また、エリプソメーターおよびX線反射率測定による薄膜キャラクタリゼーションについて、原理から実際の測定・解析手順まで簡潔に紹介します。
理工・医学・人文社会科学の専門書出版社
ここでは高分子物性の中心となる分子鎖ダイナミクスの評価とデータの見方、力学物性、ならびに、昨今、進展の著しい高分子ナノテクノロジーを支える表面・薄膜物性として、接触角計を用いた濡れ性、原子間力顕微鏡やナノインデンターを用いた局所力学物性評価、また、エリプソメーターおよびX線反射率測定による薄膜キャラクタリゼーションについて、原理から実際の測定・解析手順まで簡潔に紹介します。