内容紹介
実践を通して各種表面分析法を理解するための知識を提供するシリーズの一冊。最近の透過型電子顕微鏡TEMでは、個々の原子が見えるようになり、同時に極微領域の組成分析、化学結合の情報を得ることが可能となった。本書はこの解析技術を、実務者、技術者のために解説する実技書。
目次
1 透過型電子顕微鏡の構造
1・1 序論
1・2 透過型電子顕微鏡の構成
2 電子顕微鏡像の観察法
2・1 序論
2・2 薄膜試料の作成法
2・3 明視野・暗視野像の観察
2・4 高分解能電子顕微鏡像の観察
3 電子顕微鏡像の解析法
3・1 序論
3・2 画像解析
3・3 計算機シミュレーション
4 電子回析
4・1 序論
4・2 結晶と電子回折
4・3 制限視野回折像
4・4 マイクロビーム回折
4・5 収束電子回折法
4・6 動力学的回折効果
4.7 菊池線
5 微小部分析
5・1 序論
5・2 特性X線分光法(主としてEDS)
5・3 電子エネルギー損失分光法
5・4 エネルギーフィルター電顕法(イメージングEELS)
付録1 物理定数および変換因子
付録2 格子面感覚および二つの面のなす角度
付録3 可測電圧E、波長λおよび電子の測度νeの関係
付録4 消衰距離(2波近似による計算)
付録5 電子回析像
付録6 消滅則と結晶の空間群との対応表
出版社からのメッセージ
本書籍は価格変更に伴い、ISBNを変更しました。内容に変わりはありません。
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