内容紹介
実践を通して各種表面分析法を理解するための知識を提供する『表面分析技術選書シリーズ』。本書は、X線光電子分光法を用いて得られる多様な材料からのデータを実際に役立てるためのデータの評価、解析法などを指南する実用書。
目次
1 XPSの概要
1・1 電子分光法の特徴
1・2 XPSの位置づけ(AESとの比較)
2 XPSの原理
2・1 原理
2・2 なぜ表面分析ができるのか
2・3 光電子の発生と挙動
2・4 光電子の検出深さとバックグラウンド
3 測定装置の原理と構造
3・1 概要
3・2 X線源
3・3 分光器および検出器
3・4 真空排気系
4 測定法
4・1 試料調整法
4・2 測定の実際
4・3 正しい測定を行うために
5 定性分析
5・1 光電子ピークの表記法
5・2 元素の同定
5・3 ピーク貴族における留意点
5・4 結合エネルギー値の正確な決定(帯電補正)
5・5 正しい定性分析を行うために
6 定量分析
6・1 定量分析の基礎
6・2 表面化学組成の定量の実際
6・3 定量分析の実際(計算例)
6・4 正しい定量分析を行うために
7 状態分析
7・1 化学シフトによる状態解析法
7・2 サテライトピークによる状態解析法
7・3 価電子帯スペクトルによる状態解析法
7・4 量子化学的アプローチ
7・5 正しい状態分析を行うために
8 深さ方向の分析
8・1 深さ方向分析の基礎
8・2 イオンスパッタリング法
8・3 角度分解法
8・4 正しい深さ方向分析を行うために
9 データベースとデータ処理
付録1 j-j結合とスピン軌道相互作用
出版社からのメッセージ
本書籍は価格変更に伴い、ISBNを変更しました。内容に変わりはありません。
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本書は、少部数印刷にて重版が可能です。
在庫僅少の場合でもご注文いただけますので、お問い合わせください。
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一部、装丁が異なったり、印刷が不明瞭な場合がございますが、ご了承くださいますようお願い申し上げます。
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