内容紹介

Ｘ線・中性子線・電子線線源に共通した散乱・回折現象の実験を進めるための基礎知識、検出器の原理、各種構造解析を網羅。結晶、液体・溶液、アモルファス固体、気体、表面、ミセルや高分子・巨大粒子などの様々な試料に対し、また、用いる線源の違いに対し、どのように散乱強度を求める実験を行い、得られた散乱強度からどのようにして原子の空間的配列情報を得ていくかを解説。

目次

１　散乱・回折の基礎
　１．１　散乱と回析を表記する基本パラメータ
　１・２　Ｘ線，電子線，中性子線　　　　
２　Ｘ線の発生と検出
　２．１　Ｘ線の発生法
　２．２　Ｘ検出器　　　
３　単結晶によるＸ線回折
　３．１　構造解析をどのように進めるか
　３．２　結晶試料の作製
　３．３　回折装置
　３．４　特殊条件下での単結晶構造解析
　３．５　構造の決定
　３．６　結晶構造の精密化
　３．７　結果の評価とまとめ方
　３．８　データベースの利用
４　粉末回折
　４．１　はじめに
　４．２　粉末Ｘ線回折装置
　４．３　回折強度の精密測定
　４．４　リートベルト法
　４．５　パターン分解
　４．６　最大エントロピー法による電子・原子核密度の決定
　４．７　非経験的構造解析　　
５　生体高分子の結晶構造
５．１　構造解析をどのように進めるか
　５．２　結晶化とＸ線回析実験
　５．３　構造解析（位相決定）法
　５．４　分子モデルの構築
　５．５　結晶構造の精密化
　５．６　構造の解釈
６　非晶質の構造
　６．１　液体・溶液からの散乱と動径分布関数
　６．２　Ｘ線異常散乱
７　メゾスケールの構造（小角散乱）
　７．１　Ｘ線小角散乱装置
　７．２　小角散乱の一般論
　７．３　高分子，コロイド，ミセルへの応用
　７．４　生体高分子のＸ線回析―円筒対称パターン関数―　
　７．５　ゆらぎと小角散乱
８　中性子散乱
　８．１　中性子線の発生と性質
　８．２　単結晶中性子回析による結晶構造解析
　８．３　磁気構造の決定
９　表面・薄膜構造
　９．１　電子回折
　９．２　電子顕微鏡　　　
10　特殊実験
　10．１　微小結晶構造解析
　10．２　表面Ｘ線回折

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